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手机上电源ic芯片毁坏的原因

2020-05-28 收购库存 资讯动态 145

1、充电头輸出规格型号与手机上不符合

仿冒的小输出功率充电头,电流量不足,会被手机上拉跨,充电头不断在起动和拉跨中间颤动,其造成的冲击性非常容易让开关电源IC毁坏。

2、键入工作电压旋光性错误或插反  规范的插口一般较为难插,反这一概率有,但不高。

3、浪涌冲击性

充电头品质不好得话,在给手机充电全过程中,好似电力网附近有大中型机器设备打开或终止,造成 电力网冲击性。进而使输出电压上累加尖峰浪涌,与遭雷击类似,造成 超出IC極限而毁坏。

4、静电感应毁坏

开关电源芯片的抗压比较有限,一般有ESD电源电路做维护,假如手机设计插口曝露,且无ESD安全防护,则很容易在干躁的自然环境和化学纤维衣服磨擦导致静电感应毁坏,也有应用损坏的数据线,也非常容易使静电感应根据手机充电线毁坏到电池充电IC。

手机上电源ic芯片毁坏的原因





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